二手 KLA / ICOS CI 8250 #9053897 待售
网址复制成功！
单击可缩放
KLA/ICOS CI 8250是一种高度先进的掩模和晶圆检测设备。它旨在检测、分析和分类制造过程中半导体光掩模和晶片上的各种缺陷。该系统由光学检查单元、晶圆和面罩清洗机以及缺陷分类工具组成。先进的光学检查资产有三种不同的光头，每种光头可以容纳不同的掩模和晶圆尺寸。每个头部可以检测到各种不同大小和类型的缺陷，如线宽或形状变化、异物夹杂物、雾霾、空隙、角力以及其他表面不规则。晶片和面膜清洗模型设计用于在检查前彻底清洁面膜和晶片，提供最大精度。这种设备利用专有技术和工艺，能够从表面清除最小的颗粒。最后，缺陷分类系统由强大的图像处理算法组成，旨在识别每种类型的缺陷。这使设备不仅能够检测缺陷的存在,而且还能准确地对每种类型的缺陷进行分类,以便进一步分析。机器甚至可以对特定缺陷的严重程度进行分类，允许在制造过程中采用最佳的纠正策略。总体而言,KLA CI 8250是一种功能强大且精密的掩模和晶圆检测工具,可确保半导体制造过程中的高质量和准确性。它能够检测和准确分类各种类型的缺陷,使制造商能够快速有效地识别和解决潜在问题。该资产能够减少与纠正制造过程缺陷相关的时间、材料和人工成本,使其成为任何半导体制造商的宝贵工具。
还没有评论