二手 KLA / ICOS CI 8250 #9099090 待售

KLA/ICOS CI 8250是一种先进的自动化晶圆和掩模检测设备,专为集成到半导体制造流程而设计。该系统采用200 KV蒙特卡洛X射线技术和先进的自动缺陷检测和分类算法，以提供最详细的成像，并确保晶圆和掩模质量达到最高水平。8250单元具有强大的模式识别引擎,可自动检测晶圆和掩模基板上的缺陷。这使得它甚至可以检测到最复杂的缺陷，包括空隙、痕迹和断裂。嵌入式自定义缺陷审查模式还提供了高级操作和审查功能,以实现最佳缺陷检测和分类精度。该机器具有大面积成像工作区,允许在一次扫描中识别多达20,000个晶圆或掩码图像。快速检查大面积的能力使得8250能显着减少检查时间，快速提供准确的结果。8250被设计成融入半导体生产厂的工艺流程。它包括一个功能齐全的前端接口,可根据工厂的需要和应用进行定制。它还包括一个功能强大的后端数据存储和检索工具,有助于确保高数据完整性和安全性。该资产可靠且易于操作,可提供可重复、准确的检验结果,并可用于各种生产线应用。即使在检查最复杂的晶片和掩模模式及特征时,它也能提供出色的结果。KLA CI 8250将速度、精度和灵活性相结合,为掩模和晶圆检测设定了标准。