二手 KLA / ICOS CI 8250 #9111213 待售

KLA/ICOS CI 8250是一款最先进的掩模和晶圆检测设备，旨在满足半导体行业的需求。这种自动化工具结合了先进的光学和软件系统，在检查过程中快速准确地检测、分类和测量晶片上的潜在缺陷。KLA CI 8250使用分辨率为5纳米的高分辨率光场光学显微镜，以及并联接触个体点模式识别系统。这使设备能够捕获、分类和测量各种缺陷,包括划痕、颗粒碎片、线缘粗糙度、孔和部分位错。机器还可以检测临界尺寸的变化，从而实现有效的质量控制。ICOS CI-8250还具有高级软件功能。它包括一套协助缺陷分析的软件工具，包括缺陷图像分析软件（IMAX）、缺陷审查软件（FOTOS）和扫描审查软件（WAVER）。这些工具使用户能够快速对缺陷进行分类和量化,并在缺陷超过阈值时通知流程工程师。此外,CI 8250还包括一个用户友好的界面,可实现高效直观的操作。它还具有先进的机器人自动化功能,允许自动化的样品处理和分类。可以使用多个样本持有者，包括扁平晶片样本持有者、信号完整性阵列样本持有者和步进重复样本持有者。这允许用户优化各种检查和分析应用程序的CI-8250。综上所述，KLA CI-8250掩模和晶圆检测工具提供了强大的光学和软件系统，可以在检测过程中快速准确地评估潜在缺陷。此自动化工具旨在满足半导体行业的需求,具有先进的机器人自动化、用户友好的界面以及一套软件工具,可帮助进行缺陷分析。