二手 KLA / ICOS CI 8250 #9208706 待售

KLA/ICOS CI 8250是一种高度先进的微光掩模和晶圆检测设备。它旨在支持最新一代半导体不断升级的过程复杂性所要求的最新掩模检查和晶片级缺陷检测要求。它为客户提供了正确的工具来准确检查和审查掩模缺陷及其他相关领域。KLA CI 8250为掩模和晶圆检测提供了最高水平的图像质量和缺陷检测过程。该系统具有先进的光源和两台高分辨率数码相机,可在模具级显示功能。它还具有5微米的扫描分辨率，三个提供均匀场内照明的LED光引擎，测量范围为20mm至305mm。此外，它的8英寸平板x-y级设计方便装卸样品，这有助于尽量减少接触任何微粒。8250还设有一个自动勘测和对准装置，用于检查x和y方向的样品，并可以检测和/或分类缺陷，以提供一致、快速和可重复的检查。该机设计有一个洁净室友好的外壳，旨在减少操作员进入所造成的任何辐照，并提供一系列可选的环境控制单元（ECU），以保持一致的湿度和温度条件，确保在工艺的每一步都进行高质量的检查，以达到最大精度。此外，ICOS CI-8250具有自动化的车载质量控制，使用户能够快速设置和执行检查。使用直观的操作工具，用户可以测量、报告、记录和比较结果，从而便于分析和理解缺陷模式。使用强大的算法，资产可以比传统方法更快、更准确地定位和表征缺陷。8250是一种革命性的KLA产品，它结合了最大的灵活性和精度，用于掩模分析、晶圆检测和缺陷表征。它为检测晶片级缺陷提供了高质量、低成本的解决方桉,提供了极致的准确性和生产率。