二手 KLA / ICOS CI 8250 #9305262 待售

KLA/ICOS CI 8250是一种功能强大的掩模和晶圆检测设备,用于识别和解决任何类型生产过程中的缺陷。该系统利用先进的光学成像技术快速检查整个加工过的晶片，并检测地形和光掩模缺陷。它能够对晶片进行2D和3D图像分析，甚至能够以高精度检测最小缺陷。该单元配备了宽带G线光源和高分辨率CCD摄像头，提供高对比度的明亮图像。其集成的图像处理软件允许快速、实时的自动缺陷检测。KLA CI 8250还具有彩色触摸屏界面，提供全面、全自动的缺陷分析。这台机器还能够以各种格式制作2D和3D图像。ICOS CI-8250支持一系列尺寸在200毫米至450毫米之间的晶片。它还能够处理一系列的光掩模布局，最大分辨率为1.2微米。该工具还可以检测各种类型的缺陷，包括颗粒、地形、缝隙、缝隙、划痕、抵抗异常和异物。CI-8250能够提供快速、准确的缺陷分析。其快速检测流程有助于降低质量成本，提高工艺产量。该资产具有广泛的用户友好功能,非常适合最具挑战性的自动检查应用程序。