二手 KLA / ICOS CI 9450 #9173936 待售

KLA/ICOS CI 9450晶圆检测设备是一种高精度的掩模和晶圆检测系统，用于检测薄膜结构中的缺陷。该单元使用先进的光学、电气和工艺测试来分析半导体晶片和掩模,以找出可能导致设备性能差或潜在屈服损失的缺陷。该机器使用复杂的软件套件和图像处理技术实时检测和分类缺陷，为质量保证过程提供了一个自动缺陷审查平台。KLA CI 9450面罩和晶片检验工具旨在快速、准确地检测各种基板上的关键缺陷和材料缺陷。它结合了光电子、图像处理和胶片测量能力的独特组合，以确保缺陷检测和缺陷审查的全面覆盖。该资产配备了一个用于广域检查和缺陷分类的双视场光学平台，以及一个高分辨率数码相机，用于捕捉有缺陷的图像和感兴趣的图样。先进的成像算法旨在以各种放大倍数检测缺陷，并解决各种缺陷类型。ICOS CI-9450晶圆检验模型采用了各种先进的工具，旨在确保最高质量保证水平。这包括用于基于模具位置的自动检查和缺陷分类的模具中心模块,以及用于缺陷分类和分类的高级1D算法。此设备提供了许多功能来简化缺陷审查过程,包括自动缺陷审查和缺陷模板库。还包括一个自我校准功能，可根据特定过程的影响进行调整。最后,软件提供了直观的用户界面,使操作员能够快速访问数据并查看结果。KLA CI-9450晶圆检测系统是半导体晶圆和掩模制造商的关键工具，提供了一个既可靠又准确的全面缺陷审查平台。此单元提供了广泛的功能,包括自动缺陷审查、缺陷识别、缺陷分类和分类以及缺陷模板库。此外,该机器还提供强大的功能,包括针对特定过程影响的自我校准,以及直观的用户界面。利用这些功能,KLA/ICOS CI-9450晶片检验工具可确保关键掩模和晶片检验过程中的最高质量保证。