二手 KLA / ICOS CI-G10 #293591822 待售

KLA/ICOS CI-G10是一种用于满足半导体行业高端、高性能要求的掩模和晶圆检测设备。该系统用于检查关键特征和监视内置在掩码和光掩码中的模式。它具有最先进的光学和光学技术、先进的图像处理算法以及集成缺陷审查和元数据管理来支持图像。这种掩模和晶圆检测单元的性能和检测能力保证它可以用于最复杂布局的检测，包括逻辑、内存和模拟/溷合信号应用的检测。此外，该机既可用于生产线，也可用于研发。该单元配备了全自动模具定位器（FADP），方便精确的样品定位。FADP也由允许自动或手动对齐的示例级对齐器支持。这样可以确保样品始终位于视场上,以便进行准确检查。该工具先进的光学技术和集成的软件技术可提供高分辨率图像、清晰的对比度以及整个视野中明亮、均匀的照明。这样可以确保广泛的检查范围,同时最大限度地减少像素噪声并提供高达10,000：1的对比度。通过提供最优化的照明，甚至可以检测到最好的缺陷。资产还配备了综合、全面的缺陷审查和元数据管理模式。这使用户能够轻松查看和管理已检查的图像和元数据。此外，该设备还可以提供产量、缺陷计数、缺陷隔离度和缺陷检测效率的统计数据。KLA CI-G10是一个功能强大的掩模和晶片检查系统，能够提供可验证和可重复的检查。其卓越的光学和高分辨率成像功能、集成的缺陷审查功能以及先进的成像算法使其成为生产和研发实验室的绝佳选择。