二手 KLA / ICOS CI-T120 #9162541 待售
网址复制成功！
ID: 9162541
优质的: 2008
Inspection system
For GW 10H
3D GW Inspection
(10) Heads
Automatic pitch conversion
X1 Input module
X2 & X3 Output modules
Windows OS: Win Xp
Extra single tray sorting bin (X4)
Display: LCD display, 17"
Gull wing 3D inspection
BGA 3D and bottom PVI inspection
No 2D QFN / BCC Univ top plate
Mark and aPVI option
No burr inspection
Mark inspection
45mm Lens EXT8 w/o filter: 60 mm, UV filter
Barcode scanner USB
ZCAL Gloden unit
CSP Gloden unit
GW Gloden unit
GWT12 Gloden unit
GW Inspection tool kit
BGA Inspection tool kit
Z1 10 Head CI-T1x0
Z2 Dual fixed head
No ionizer kit SUNX standard
Tray orientation kit (nf)
Air blower set X1/LIM and MI: Only LIM
2008 vintage.
KLA/ICOS CI-T120掩模和晶圆检测设备是一种用于生产各种电子产品所用集成电路的成像工具。它提供快速、无破坏性的扫描和测量口罩和晶片的杂质和缺陷。该系统集成了先进的计量、缺陷审查和过程控制技术，以确保可靠的检查和准确的结果。KLA CI T120是一个高性能单元，吞吐量高达每小时3850晶圆。它被设计用来检测最小的缺陷，甚至低至0.5microns和更小。它利用先进的照明和成像技术提供精确的3D晶圆地形测量。该机包括一台多功能彩色相机和一个具有连续360°可旋转视野的检查头。该工具具有自动分区功能,可自动识别、标识和标记每个掩码/晶圆区域,从而提供精确的对齐、定位和比较。它支持错误对齐和旋转缺陷检测,从而实现分类、审核和缺陷计数。它还可以评估缺陷设计和大小，从而能够检测常见的缺陷，如颗粒和颗粒簇。ICOS CI T-120包括强大的晶圆测量工具,如数字标记辅助注册和自动对焦功能,以确保快速精确的晶圆定位。它采用先进的LED照明进行高精度成像和分析。它的自动化跟踪还允许快速和一致的晶圆数据收集、分析和提取。此外,该资产的电子设备和软件包可实现快速的数据传输和通信。此外,KLA/ICOS CI T-120模型的设计便于操作和维护,在广泛的生产批次中具有出色的工艺一致性,确保了可靠和可重复的结果。其Equipment Monitor功能提供了所有相关工艺参数的详细实时图，使维护和优化更加容易。使用其用户友好的Workbench软件,用户可以自定义图标、工具、脚本和操作行为以进行优化或过程控制。
还没有评论