二手 KLA / ICOS CI-T120 #9190911 待售

KLA/ICOS CI-T120是一种自动化的掩模和晶圆检验设备,旨在帮助半导体制造商在其生产过程中保持高质量的标准。这项先进的技术能够以速度和精度检查投影掩模和半导体晶片的图样、厚度和其他关键尺寸特性。KLA CI T120系统利用先进的模式识别算法，精确检测小至0.28微米的特征。获得专利的成像技术允许识别各种照明条件下的图样缺陷，包括红外和可见的亮场照明，以及暗场检查。它还可以同时容纳单面和双面晶片。通过采用创新的抗锯齿技术，该单元能够在特征大小的5%以内实现边缘检测精度。ICOS CI T-120采用2k x 4k传感器,允许每秒高达1600万像素的完整检测率。该机器的视野为12英寸，能够高速扫描大小掩模和晶片。它还提供了惯性运动工具，允许操作员在检查时手动调整速度和加速度。KLA CI-T120具有直观的图形用户界面，便于学习和使用。它完全符合SEMI E120和E134建议的做法；使用户能够根据行业标准测试和认证其口罩和晶片。CI T-120是一种可靠、经济高效的解决方桉,适用于寻求先进的掩模和晶圆检验资产的半导体制造商,可帮助他们在整个生产过程中保持高质量的标准。凭借其先进的映像功能、直观的用户界面以及与行业标准的兼容性,CI-T120是在竞争日益激烈的行业中保持领先地位的理想选择。