二手 KLA / ICOS CI-T120 #9195098 待售

KLA/ICOS CI-T120是一种顶级的掩模和晶圆检测设备,旨在为设备制造提供高度准确可靠的缺陷检测能力。该系统具有先进的光学成像功能,可在多个级别对样品进行高分辨率检查。成像单元由高质量的CCD相机和精密光学元件组成，用于样品检查。先进的照明和图像捕捉技术甚至可以用来检测和测量最小的缺陷。此外，这台机器还配有内置显微镜，可在需要时以更高的放大倍率查看区域。该工具具有直观的用户界面和快速准确分析数据的工具。扫描搜索功能可以快速识别非均匀性,如颗粒、缺陷和污染物。此外,资产数据可以多种格式存储,从而实现高效的存档和检索。该模型还利用快速扫描时间和广域覆盖，允许快速准确检测多个晶片的缺陷。设备采用集成算法，提供高保真图像和扫描数据的准确分析。此外,系统还利用多种检查算法来满足特定需求,如掩码平整度、掩码配准等。KLA CI T120适用于提取关键掩模和晶片的缺陷信息，为质量控制提供了可靠的单元。它的数据捕获功能允许对扫描数据进行广泛的分析,并使用多种检查算法来处理各种测试方桉。直观的用户界面允许快速导航和分析检查结果，确保操作准确可靠。机器的高保真成像能力和直观的用户界面使其成为生产质量控制的理想工具。