二手 KLA / ICOS CI-T120 #9229540 待售

KLA/ICOS CI-T120是一种自动光学检查（AOI）设备,设计用于执行掩模和晶片检查。该系统由一个紧凑的单元组成，其中装有检查过程所需的所有组件，如光源、光学和成像相机。该单元配备了63倍物镜，允许高达1.2um的高分辨率成像。该机采用的彩色扫描技术使其具有较高的模式识别能力和较高的缺陷检测率。自动对焦功能能够不断调整镜头对焦,确保清晰准确的图像采集。检查过程是通过在成像工具下从物体的顶部和底部平衡光源辐照角度来完成的。这样就形成了统一的阴影,从而能够进行精确和准确的检查。新配置的Z电动机可补偿晶圆的倾斜度,从而实现精确的成像。该资产还有几种检测晶圆缺陷的内置算法，有助于组件追溯，为用户提供全面的缺陷数据。KLA CI的固有特性T120使其能够提供缺陷失真分析和3D成像,从而在识别表面缺陷时实现高收率和准确性。ICOS CI T-120还具有全面的连接。它提供以太网、USB、以太网和Opto-Isolator I/O功能,为系统提供允许远程访问和维护的用户界面。这也确保了模型完整性,因为只有授权人员才能访问模型完整性。它还具有内置诊断功能,可快速诊断和故障排除问题,从而加快维护速度。KLA CI-T120是那些寻找高效、高性能的掩模和晶片检测设备的人的理想选择。其先进的光学和成像能力,加上其紧凑的尺寸,使其成为任何设施的理想选择。该系统的先进功能，如自动聚焦和缺陷检测算法，使其成为提高质量控制和消除生产浪费的必要工具。