二手 KLA / ICOS CI-T120 #9247435 待售

KLA/ICOS CI-T120插槽检测设备是一种基于成像的掩模和晶圆检测工具。其高亮度、光学成像技术为用户提供卓越的聚焦深度和图像分辨率，用于IC掩模和IC晶圆检测。KLA CI T120具有缺陷检测、高精度、高吞吐量等先进功能,是口罩和晶圆生产线应用的绝佳选择。ICOS CI T-120利用大磁场光学和直线探测器（DLD）,并根据预设增强3、4或5倍。其照明系统独立于检验目标运作，使各种照明参数得以设定。对于需要更高分辨率的样品，可以使用低倍率物镜。KLA/ICOS CI T 120的高级软件和硬件能够集成各种检查模式。它可以检查和测量不同类型的对象,包括线、圆、正方形和区域。可以在检查区域中自动检测到隔离和/或连接的缺陷。检测到复杂的缺陷，目的是尽量减少误报，该单元能够从多个角度分析缺陷。ICOS CI T120配备了强大的滤波器算法、内存系统和其他功能阵列,使机器能够检测到表面和地下缺陷。NV-Series Software （NVSE）是一个包含在过程检查、后期处理、测量和注册中的数字图像的多功能一体服务软件。CI T120样本预期寿命5年以上，产率99.9%以上。它的设计结构紧凑,易于安装。工具中的温度由专用冷却资产调节,其可变方向强制风冷出口设计为确保最佳空气流动以散热而不影响性能。CI T-120支持多种接口,包括USB、以太网和RS-232。它的高性能硬件和软件（包括高端CPU处理器）旨在实现最大的灵活性和易用性。使用简单的用户界面,用户可以轻松设置、监视和编程模型。CI-T120是一种高效可靠的掩模和晶片检测设备,可为用户提供高质量的图像、快速准确的缺陷检测以及高吞吐量。它支持高级硬件、软件和功能,旨在满足用户对各种应用程序的高精度和高吞吐量要求。