二手 KLA / ICOS CI-T120 #9256279 待售

KLA/ICOS CI-T120掩模和晶片检测设备是一种先进的成像解决方桉，设计用于检测用于先进半导体封装的掩模和晶片。该系统结合了先进的光学和高灵敏度成像传感器，提供卓越的性能和精确的缺陷检查和分类。KLA CI T120有一个由透镜和镜子组合而成的光学单元。这样可以确保捕获非常高分辨率的图像以创建详细的检查结果。此外,ICOS CI T-120还配备了用于直接检测缺陷的高级传感器阵列。传感器阵列通过捕获散布在样品表面上的光中的阵列来工作,使其能够检测表面缺陷,如接触孔、沟槽和其他特征。CI T120提供了优良的精度和灵敏度的缺陷.其高精度的模式检测算法可以用亚微米分辨率检测缺陷，实时报警操作员，减少人工检测所需时间。此外,计算机还支持对同一个样本拍摄的两个图像进行比较,这些图像可用于识别两个图像之间的变化并提醒用户注意潜在的缺陷。ICOS CI T120配备了最先进的图像处理引擎。这允许工具将蒙版图桉调整到任何所需的方向,或修改任何特定图像特征的对比度或亮度。资产还具有测量处理前后阈值水平变化以及对图像应用滤镜的能力，消除不需要的噪音以确保准确的检查结果。KLA CI T-120利用数字库存储图像和缺陷数据,使用户能够轻松地调用数据集并查看结果。它还可以通过Web或以太网连接远程访问,使其成为用于移动设备掩码和晶圆检查的可靠且安全的解决方桉。总体而言,ICOS CI-T120掩码和晶片检测模型是一种功能强大且复杂的成像解决方桉,旨在提供卓越的图像质量和精确的缺陷检测。这是一个极好的选择，对于那些寻找一个可靠和安全的解决方桉来检查半导体封装中使用的掩模和晶片。