二手 KLA / ICOS CI-T120 #9293270 待售

KLA/ICOS CI-T120是一种高精度的掩模和晶片检查设备,旨在对各种基材（包括各种尺寸的掩模和晶片）进行快速、准确和可靠的检查。该系统利用先进的光学技术精确检测、检查和测量掩模和晶片上的缺陷，也可用于检测表面颗粒缺陷。该单元具有大型固态远程中心成像柱,可实现最大的光通量和图像精度。该成像柱与高灵敏度CCD相机相结合，可捕获高质量的蒙版和晶圆表面图像。机器也可以调整，以适应不同的基材尺寸和形状。除了成像能力外，KLA CI T120还配备了高端成像工具，能够进行高分辨率测量和粒子异常调查。集成的机械级允许资产逐步移动基板,从而实现准确的缺陷检测和成像。此外,该模型还配备了自动蒙版对准器,旨在精确对齐和测量每种蒙版设计,并确保准确性和可重复性。ICOS CI T-120还具有高效的缺陷审查和决策过程。设备生成详细的分析报告,介绍缺陷的位置、大小和特征,从而能够快速准确地检测和分类缺陷。此外,该系统还具有强大的用户界面和自动化功能,允许用户快速轻松地自定义检查、添加和删除晶片以及查看图像和报告。总体而言，CI T120是一个功能强大但直观的掩模和晶圆检测单元，旨在检测和测量各种缺陷。该机器能够提供极高的精度，并提供详细的缺陷信息和用户界面功能的组合。适合大容量掩模、晶圆检测或批量工艺控制等应用。此外，由于其灵活的设计，CI-T120适用于许多其他检验和计量应用。