二手 KLA / ICOS CI-T120 #9360770 待售

KLA/ICOS CI-T120是一种高精度晶片和掩模检测设备，利用双方向照明进行精确测量和检测缺陷。该系统提供了业界领先的准确度和速度检查面罩和晶片.KLA CI T120采用先进的光学单元设计,利用双轴成像（"升高和减小散焦"）提供居中成像机,以确保最高的精度和厚度测量。该工具可以通过自动缺陷分类，单步检测掩模或晶圆表面的颗粒和缺陷，如划痕、污染物和其他缺陷。ICOS CI T-120还具有环境调节系统,可监控和补偿可能影响晶圆和掩模成像的环境因素。该资产在浑浊的环境中提供卓越的性能,因为通过先进的光学工程大大减少了环境条件的范围,即使在更具挑战性的条件下,图像也能保持清晰。该模型允许通过高速线性扫描快速获取数据,从而提供对吞吐量影响最小的高质量图像。CI T120还具有高级模块化设计,可确保部件的最佳维护和更换。ICOS CI-T120具有广泛的检查功能,包括掩模检查、晶圆检查、缺陷检查、关键尺寸测量和3D深度测量。它可用于小批量到大批量生产以及故障分析应用。CI-T120设备提供了卓越的精度和缺陷检测，使其成为掩模和晶圆检查的理想选择。该系统提供高速数据采集,吞吐量影响最小,可提高设备产率。它采用模块化设计,确保了部件的轻松维护和更换,从而确保了最大的设备正常运行时间。先进的环境调理机即使在恶劣的条件下也能确保清晰的图像。该工具还提供了广泛的检查功能,使其成为低批量生产的理想选择。