二手 KLA / ICOS CI-T120 #9360771 待售

KLA/ICOS CI-T120 Mask&Wafer Inspection Equipment是一种设计用于半导体工业的高度先进的精密测量工具。它能够使检查过程自动化，并提高整体准确性和效率。该系统由一个亮场激光成像工具组成，用于测量和检查面罩和晶片上的各种特征，包括光学图像、线条图桉和平面。它配备了一千万像素的全彩色光学显微镜，设计用于提供各种设置的高分辨率图像。该单元还提供了一系列高级功能,可用于自定义其性能,如可变数据捕获、可编程参考配置以及几种质量控制和缺陷检测功能。KLA CI T120机旨在最大限度地提高生产效率。它提供快速、可靠和准确的测量,数据可靠性高达100%。该工具配备了独特的"多轴模型"，可以测量晶圆大面积上的垂直和横向特征，结合长距离显微镜和自动采样级。此外，该资产还支持先进的图像处理和特征检测算法，从而能够根据预定标准确定缺陷。ICOS CI T-120模型还提供了一系列功能,使半导体制造商能够根据其特定需求调整其性能。这包括全光谱LED照明模块和自动对焦级等功能,有助于更快、更准确地进行测量。它还配备了多合一集成数据捕获设备，可以存储最多8种不同配置的测量数据。ICOS CI-T120是一个用户友好的系统,具有简单的软件控制和直观的用户界面。CI T-120 Mask&Wafer Inspection Unit是一种先进可靠的工具,旨在帮助半导体制造商最大限度地提高精度、速度和效率。它提供了一系列的特性和功能，可以根据用户的特定需求量身定制。它结合了卓越的成像能力、自动化测量和先进的缺陷检测算法,提供了卓越的精度和可靠性,并提供了巨大的投资回报。