二手 KLA / ICOS CI-T120 #9360928 待售

KLA/ICOS CI-T120是一种掩模和晶片检测设备,可提供可靠、完整的检测解决方桉。该系统包含内置的XY级,允许在单元内放置晶片或掩模时进行精确控制。该机采用二维光学检测仪，针对大面积和精细特征成像进行了优化。光学资产包括高精度电动XY级、远心固定焦距光学镜头和Linescan或CCD相机。视场和对焦深度是可调的,允许对具有不同特征和厚度的晶片或掩码进行最佳图像采集。该型号配备了驱动照明控制设备、打印机/绘图仪、图像处理器和图像分析单元的电源。照明系统的设计旨在确保整个视野的亮度均匀，消除任何不均匀现象，从而改善图像质量，甚至检测缺陷。打印机/绘图仪允许加载路径程序文件,并允许打印图像以供查看。图像处理器允许操作员调整参数，如阈值或灰度、对比度和放大倍数。它具有集成的图像库，可以将检查图像与参考图像进行比较，以检测任何偏差。图像分析单元允许自动检测缺陷,包括识别和测量缺陷。该单元具有较高的检测灵敏度，可以检测规格内和规格外的缺陷。它还具有高效的缺陷管理机器，允许操作员对缺陷进行审查和分类。KLA CI T120是一种可靠、全面的掩模和晶圆检测工具，具有很高的精度和分辨率。它旨在检测和测量非尺寸特征和尺寸特征,并且可以为特定应用程序轻松定制。其强大的体系结构使其成为缺陷检测和测量应用的理想资产。