二手 KLA / ICOS CI-T120 #9407127 待售

KLA/ICOS CI-T120是一种自动掩模和晶片检查设备,能够以高达10,000倍的放大倍率对光掩模、微通掩模和半导体晶片进行高精度目视检查。KLA CI T120使用最新的高分辨率光学器件,对晶圆和图桉化光掩模上的颗粒污染进行自动缺陷审查和测量。该系统采用配有CCD摄像机的光学显微镜和先进的图像处理算法，能够在短短几分钟内实现高精度晶圆和掩模缺陷的检测、分类和分析。自动对齐功能可确保准确注册图像,同时可针对不同类型的缺陷优化图像处理设置。由于设备的灵活性,它可以支持更改或扩展要求,例如多个生产批次和变化的缺陷搜索条件。ICOS CI T-120包含高级自动化功能,以简化检查任务。自动对焦和自动校正功能确保从具有挑战性的表面可靠检测不透明颗粒和其他缺陷。直观的软件提供了一个易于使用的界面,具有强大的搜索功能,可快速查找特定的缺陷类型。拖放窗口可用于比较图像区别并重新排列以快速准确地匹配检查标准。机器的高级污染和缺陷跟踪功能旨在减少循环时间并帮助确保晶圆、掩模和屈服性能。综合报告工具可自动生成定量缺陷数据（如等级、区域、计数和大小）的详细分析,而内置菜单选项则允许用户在几秒钟内查看、分析和导出数据。坚固而准确的KLA CI-T120掩码和晶圆检查资产提供了灵活性和自动化,可轻松处理不断变化和扩展的需求。CI T120结合高分辨率光学技术和先进的图像处理技术，对晶圆和光掩码进行了精确的检测，并进行了快速的缺陷检测和分类。该模型的直观软件,以及先进的自动化功能,保证了快速可靠的结果-帮助客户优化生产过程并确保卓越的产品质量。