二手 KLA / ICOS CI-T130 #293670281 待售

KLA/ICOS CI-T130是一种掩模和晶片检测设备,旨在为缺陷检测应用提供高通量和精度。KLA CI-T130将经过验证的晶圆图像采集技术与先进的缺陷检测和分类算法相结合，为用户提供了制造缺陷分析的强大工具。ICOS CI-T130系统配备了先进的光学成像系统,利用RGB（红、绿、蓝）光源获得最大的图像清晰度。这样可以对晶片的2D表面和3D体积特性进行高清图像捕获,并以清晰和准确的方式测试Windows。此外，CI-T130拥有一个自动对齐器，以确保任何掩模或晶片的精确定位，便于精确扫描和缺陷检测。KLA/ICOS CI-T130设施采用了最新的图像识别技术,能够快速准确地识别缺陷。此单元利用复杂的缺陷分类算法,结合模式识别功能,来识别、分类和存储各种缺陷类型。KLA CI-T130机进一步能够提供详细的三维桉例检测和产品缺陷分析。ICOS CI-T130有助于快速采样和处理数据,4英寸晶圆的采集时间仅为25秒。这一令人印象深刻的吞吐量速率使用户能够快速收集大量数据用于下游分析,而停机时间最短。此外,对节能功能（如自动睡眠模式）的访问意味着该工具在不使用时需要最低的能耗。CI-T130是制造商的理想解决方桉,旨在实现业界领先的缺陷检测性能。KLA/ICOS CI-T130资产利用高精度光学、先进的成像技术和复杂的分析算法来实现最高的生产力和准确性。这种自动化模型在成像能力以及缺陷分析算法方面都提供了卓越的性能,以实现前所未有的缺陷分析速度和准确性。