二手 KLA / ICOS CI T620 #9237128 待售
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KLA/ICOS CI T620是一种高度先进的自动掩模和晶圆检测设备。它具有高分辨率彩色CCD成像系统,最小特征尺寸为0.94微米,对准精度为0.75微米。先进的成像单元利用二次变换算法分析和检测图样中的缺陷,确保了可靠的成像和准确的缺陷检测。此外,该机器还具有高速光收发器,能够提供高达200MHz的数据速率。这样就可以高速扫描掩码、晶片和其他制造过程。此外,它还提供了一种创新的缺陷检测工具,将视觉检查和自动化电气测试结合在一起,以实现高效、全面的检测过程。KLA CI T620旨在实现掩模和晶圆检测过程的自动化和简化。它能够检测到各种各样的掩模和晶片缺陷,可用于生产过程的制造和质量保证阶段。此外,资产可用于检测"杀手"缺陷,如果未被发现,可能导致产品退化或故障。为了满足不同厂商的各种要求,可以为每个应用程序定制ICOS CI-T620设置。从全自动模式到更深入的手动模式不等。此外,ICOS CI T620集成了多种软件和硬件组件,包括可编程逻辑控制器(PLC)和多种传感器和执行器技术。这样可以在不同的环境和生产条件下优化检查结果。总体而言,CI T620是一种高效、高性能的掩模和晶圆检测模型,旨在提高质量控制和减少生产误差。其先进的成像设备、广泛的技术特点和多功能性使其成为半导体制造和检验行业制造商的理想选择。
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