二手 KLA / TENCOR 2131 #293752263 待售

KLA/TENCOR 2131是一种用于半导体掩模和晶片目视检测的设备，提供了比传统方法更高精度的综合缺陷检测能力。该设备具有广泛的特点和应用，可以量身定制以满足特定的要求，使其成为半导体制造中不可或缺的工具。该系统利用专利阴影技术，利用传感器检测半导体掩模和晶片中存在的缺陷。然后应用算法确定每个缺陷的确切位置和大小。在操作过程中，设备可以检测到划痕、颗粒、空隙、非均匀性和其他污染物。此外，对于每一种缺陷，机器可以确定表面的颜色和亮度，以及缺陷的大小。利用这些信息,刀具会标记晶片或掩模的潜在缺陷,以便进一步研究。除了缺陷检测，资产还为迭加、平整度和线宽测量等应用提供了多种成像选项。该模型附带一个包含3D查看器的软件套件，允许用户一次查看多个图像并轻松浏览它们。它还具有检测晶片中材料缺陷的能力，如金刚石挖沟、台阶检测等等。设备本身装在一个安全、环境控制的机柜中，由一个高分辨率彩色液晶显示屏和一个光学感应头组件组成。光头可旋转超过360度,角分辨率为0.001度。系统还具有LED和棱镜来区分特征,以及几个内置滤镜来调整光强度或改变图像的光谱。KLA 2131是一种高度可靠和准确的单元，用于检测和评估半导体掩模和晶片上的缺陷。其先进的算法,结合优越的光学元件,提供无与伦比的精度和性能.该机也易于操作，并附带了几个用户友好的软件应用。总之，它是半导体制造的宝贵工具，是质量控制应用的理想选择。