二手 KLA / TENCOR 2131 #293821531 待售

KLA/TENCOR 2131是一种高精度的掩模晶圆检测设备，设计用于查明最复杂的半导体材料中的微缺陷。该系统结合了下一级光学、照明和图像捕获技术,即使是最微观的异常或表面污染,也具有无与伦比的重复性、准确性和灵敏度。KLA 2131的设计采用双光学单元,可对微小的粒线和粒子进行出色的成像。该机的双通道光工具可产生高达十亿个不同的照明角度，并进行测量和调整以获得最佳效果。使用双摄像头资产选项,用户可以选择一个向上倾斜的角度以获得更宽的视野,也可以选择一个倾斜角度以获得更高清晰度的图像。导孔特征允许将晶片精确定位在舞台上，从而可以从多个角度对晶片进行检测。TENCOR 2131配备了新的激光模式识别，识别出小至0.1um的缺陷。这项先进的技术旨在对缺陷图像进行分析,以确定其特征并优化流程。此外，2131具有通过包含多个模具结构的层进行精确分析的能力，使其更能检测到超微小的缺陷。该模型还配备了一整套图像校正工具，包括Auto Focus，它使用独特的算法从复杂的晶圆图样中带出精细结构的细节并对其进行清晰检查。"检查软件"使用户能够快速创建复杂的模式并轻松操作设备。KLA/TENCOR 2131旨在实现正确的目标性能,并为半导体行业的质量保证和问题解决提供可靠、高效和经济高效的解决方桉。系统的功能将有助于确保缺陷大小、形状和位置能够准确、一致地重复识别,从而为客户提供无与伦比的缺陷检测性能。