二手 KLA / TENCOR 2131 #9269112 待售

KLA / TENCOR 2131
製造商
KLA / TENCOR
模型
2131
ID: 9269112
Wafer defect inspection system.
KLA/TENCOR 2131是为半导体行业设计的高性能检测设备。该系统结合了先进的成像技术和创新的检查工具,以提供业界领先的生产力和质量保证。该单元适用于每个掩模和晶片检查过程,包括物理尺寸测量、光学缺陷检查、电气故障分析以及光助和扫描分析。KLA机配备了包括相机区域阵列、全局快门、逐行扫描相机在内的多种传感器和成像系统。这些传感器可以在从光掩码到晶圆的各种检查中快速检测缺陷,如随机和系统的缺陷。该工具还利用了先进的光学器件,如远心透镜和衍射光学器件,以及用于灵活数据分析和报告的专有软件。该资产的软件使用户能够将复杂的算法应用于检查任务,包括表面评估、图像识别和偏差分析。此外,它还能够进行一种称为连续过程监视器(CPM)的缺陷检测。CPM可以在制造过程中实时检测、表征缺陷并发出警报。KLA 2131旨在减少口罩和晶片的检验时间,帮助制造商降低成本并提高产量。该模型还通过允许在单个晶片上同时检测多个模具以及缩短检测时间来提高吞吐量和产量。该设备具有许多功能,使操作和维护更加容易。其中包括用于控制的直观用户界面、用于轻松操作的触摸屏以及用于轻松访问数据、诊断和其他功能的直观命令。该系统还能够使用自动校准过程来加快设置和校准时间。TENCOR 2131掩模和晶片检测仪是半导体工业中一种坚固、精确可靠的机器。它将先进的光学和成像技术与先进的软件相结合,以提高生产力和质量保证。该工具使用户能够减少检查时间和成本,同时提高产量和吞吐量,提供可靠、高效的检查解决方桉。
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