二手 KLA / TENCOR 2131E #9384645 待售

製造商
KLA / TENCOR
模型
2131E
ID: 9384645
优质的: 1994
Wafer inspection system 1994 vintage.
KLA/TENCOR 2131E是为半导体工业设计的高性能、掩模和晶圆检测设备。它是KLA系列多通道、基于图像的检测系统中的最新产品。该系统采用了一系列先进的计算工具和技术,为检查晶片、掩模和其他复合零件提供了全面、系统的方法。KLA 2131E基于TENCOR TrueImage Technology平台,由一套高级检查算法和成像工具组成。该装置能够检测被检查物品表面的污染、缺陷、缺陷和变化。此外,机器可以测量尺寸、角度、公差等重要参数。先进的检测工具还利用了获得专利的MaxBright Sensor Technology,与以前的型号相比,它产生了优越的图像质量。此技术可确保不遗漏被检查对象表面的详细信息。该资产采用高精度、数百万像素的CMOS成像传感器,每帧可提供高达1200万像素的图像。TENCOR 2131 E还提供了一系列专门为高效和全面缺陷评估而设计的检查程序。这种最先进的模型具有直观的用户界面,使用户能够轻松地选择最合适的检查标准和参数。2131 E提供快速可靠的性能,最大吞吐量速率高达每小时14000晶圆。该设备提供同类设备中最高的吞吐量速率,在运行过程中实现高利用率。它还提供了减少周期时间和近乎无限的即时数据收集和分析能力。此外,KLA/TENCOR 2131 E配备了先进的故障诊断系统。这使用户能够快速识别和排除潜在问题,减少停机时间并提高效率。该单元还允许实时晶片跟踪分析,大大减少了设置时间,加快了生产速度。总体而言,2131E是一台功能强大、准确、高效的掩模和晶片检测机,可以帮助确保最高质量的结果。其先进的功能使其成为市场上最先进的系统之一,使其成为许多企业和行业的理想解决方桉。
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