二手 KLA / TENCOR 2132 #9181746 待售

KLA/TENCOR 2132是一种高端的掩模和晶片检测设备，设计用于通过光学识别和图像分析快速准确地检测半导体掩模和晶片图样缺陷。它能够检测各种类型的图样缺陷，从线宽、图样和组合的不准确到异物的存在，如颗粒、残留物和划痕。该系统采用先进的照明单元和KLA开发的图像识别技术。照明机采用低级和高强度光源相结合的图像捕捉，加上额外的照明源，使自动聚焦机制能够完美捕捉锐利的图像，尽管基板上存在功率变化。图像分析和识别软件也非常精密。结合算法和分析技术，如边缘检测、强度测量和滤波器操作，以高度精确的方式识别缺陷。此工具可以识别整个晶片或掩码映射到单像素分辨率的缺陷。它还能够精确检测阵列区域中的微小变化。该软件还具有一套工具,用于可视化、分析和报告检查结果。这使用户能够快速轻松地与半导体制造过程的其他成员分享他们的发现。资产还包括各种高级参数，可以根据用户需求进行定制。KLA 2132是一种高度可靠、用途广泛的掩模和晶圆检测模型。它提供了准确可靠的结果,同时消除了手动流程的需要。先进的检测和分析功能,加上强大的可视化和报告功能,使其成为寻求识别和消除产品阵列缺陷的半导体制造商的理想解决方桉。