二手 KLA / TENCOR 2133 #293747979 待售

KLA/TENCOR 2133是一种用于识别半导体晶片缺陷的掩模和晶片检测设备。利用128束激光器，结合先进的光学工程技术，将光束射向晶片，测量其地形。然后系统使用算法来确定表面缺陷或缺陷的存在。它能够在一次扫描中对多达50,000个样品站点进行成像,使其成为检查各种制造工艺的大型集成电路芯片的理想工具。KLA 2133单元配备了高灵敏度激光成像和非接触、无损表面检测方法。这使机器能够检测到各种表面特征,从针孔等小缺陷到线条和划痕等大特征。此外,该工具使用的先进光学和成像技术使其能够检测极小的缺陷,从而为用户提供样品站点的高精度图像。该资产可以在一个批次中检查多个晶片，并且能够并行运行多个检查作业。这样可以同时处理多个晶片,而不会牺牲精度或浪费等待图像处理和分析的时间。该模型还具有高度的开发人员灵活性,并配备了功能强大的脚本工具,可自动执行流程并允许根据用户需求进行自定义。该设备的视觉检测技术非常适合缺陷检查，使技术人员能够智能诊断和识别模式异常。此外，该系统能够绘制表面地形，并能提供平坦度、表面粗糙度、倾斜、变形和其他物理测量。最后，TENCOR 2133单元是晶圆检测极其可靠高效的工具。它提供了准确的结果和精确的缺陷位置,使用户能够快速减少错误并排除生产问题。它是半导体制造的理想工具，也是任何希望可靠地识别晶片或掩模缺陷的生产商的宝贵资产。