二手 KLA / TENCOR 2135 #9230398 待售

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製造商
KLA / TENCOR
模型
2135
ID: 9230398
晶圆大小: 8"
优质的: 1996
Wafer inspection system, 8" 1996 vintage.
KLA/TENCOR 2135是一种掩模和晶圆检测设备,旨在最大限度地提高吞吐量,为半导体芯片检测过程带来无与伦比的精度。该系统基于一个并行的光子学传感器网络,以及一个强大的成像子系统来检测和区分集成电路表面的图样、缺陷和材料。KLA 2135使用先进的激光测距技术,从先进的半导体设计中检查复杂的光掩模和标线。该装置设计为能够快速检测和分析晶片上复杂的形状和图桉,检测表面的任何缺陷或不规则性。通过使用高功率激光器,它可以检查到纳米级的特征,提供当前系统无法达到的精度水平。该机器采用最新的光学成像和检测技术来区分晶圆上和集成电路内的不同材料。高级软件设计用于识别暴露的通气、接触点之间的桥接以及晶体管未对准等缺陷。还可以对其进行调整,以检测各种外来材料,包括污染物和电介质。TENCOR 2135为操作员提供了对掩模和晶圆检测参数的广泛控制。可用于调节激光束的曝光水平、增益和强度。此外,该工具还可以检测出应力、氧化、污染和不透明度的耐受性。这样,资产就能快速准确地识别出问题,从而对集成电路进行精确准确的调试和修复。2135还具有报告结果的高级选项。它能够保存高分辨率图像、标准测试模式和结果图供以后查看。这使得运算符可以轻松快速查看以前测试的数据,从而为解决问题提供了强大的工具。总体而言,KLA/TENCOR 2135是一款功能强大的掩模和晶圆检测模型,为半导体芯片生产过程带来无与伦比的精度和速度。它采用先进的光学、成像和检测技术,能够快速、轻松地执行高度精确的检查和识别小缺陷。集成式报告设备易于审核和存储测试结果,非常适合快速可靠地解决问题。
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