二手 KLA / TENCOR 2139 #9390473 待售

KLA/TENCOR 2139是一种用于检测半导体晶片缺陷的掩模和晶片检测设备。该系统结合了自动光学检查单元和晶片处理以及先进的多工具分析能力，对各类掩模和晶片提供超快、无损的评估和缺陷表征。该机器具有自动化环境,包括高分辨率自动聚焦、晶片装卸和高精度多阵列支持。硬件利用大视场来识别无缺陷晶片上高达8 µm的缺陷。为了进一步增强缺陷检测功能,该工具可以利用高级对比度调制和高级算法来检测多种故障模式。KLA 2139提供自动缺陷表征功能,包括自动草绘、物理形状测量、拓扑和图像模式分析,可帮助快速、精确地识别各种缺陷。此外,该资产还提供数据传输和存储,用于从缺陷检查过程中捕获原始图像,并为客户提供高保真缺陷图像。该模型还能够运行自动配方，使客户能够减少分析晶片或掩模所需的时间。这也消除了在执行自动缺陷检查时需要手动干预的需要。该设备还具有先进的缺陷分析功能,能够快速准确地检测产量限制缺陷。为确保可靠准确的数据,TENCOR 2139提供自动化的系统校准和监控选项,确保设备性能得到维护,并实现客户对机器的完全信心。此外,它还支持控制,包括光、背景、高压、探测器以及不同光学传感器和图像传感器之间的同步。总体而言,2139是半导体行业先进的自动化光学检测工具,它提供了超高速缺陷检测功能,并能够利用高级算法和分析来准确地表征和量化掩模和晶片上的缺陷。因此，它是帮助半导体制造商保持竞争力的宝贵工具。