二手 KLA / TENCOR 2350 #9250155 待售

KLA/TENCOR 2350是一种用于生产微电子器件的掩模和晶圆检测设备。它结合了成像技术、先进的模式识别算法和高精度的迭加测量来检测掩模和晶片的缺陷。它的设计目的是提供精确和可靠的缺陷测量，即使在复杂的模式。KLA 2350使用扫描电子显微镜（SEM）对集成电路、掩模和晶片成像。这使得它能够检测到最小的缺陷。利用专门为自动检测设计的算法，TENCOR 2350可以检测残留和氧化等颗粒和基于模式的缺陷。高性能图像处理器用于快速检测缺陷,而强大的光滤镜和信号/噪声处理技术可实现准确可靠的测量。该系统还可用于表征晶片模式和验证质量控制和过程控制标准。其先进的迭加测量能力使用开源算法来计算采样结构的模式和迭加精度。这有助于确保准确的生产,提供更快的周转时间和更高的吞吐量。2350可与其他系统集成,使生产线操作员能够轻松高效地检测缺陷,而无需手动检查每个晶片。是半导体制造、晶圆制造和质量控制的理想装置。该机还便于携带，易于安装和使用。该工具生成的测量值非常精确且可重复。综上所述，KLA/TENCOR 2350是一种高度精确可靠的掩模和晶圆检测资产。它结合了成像和模式识别算法来检测甚至最小的缺陷，并且可以与其他系统集成，以便更高效和方便的质量控制。该模型提供了一种快速可靠的缺陷检测方法，使其成为半导体制造、晶圆制造和质量控制的理想解决方桉。