二手 KLA / TENCOR 238 #293595764 待售

KLA/TENCOR 238是一种先进的半导体掩模和晶圆检测设备，设计用于检查集成电路（IC）等用于制造电子器件的器件。该系统旨在识别和检查光刻面罩和印刷晶圆图样中的缺陷。KLA 238利用一个最先进的模式识别单元来识别特定的标记，提供一个高分辨率的图像，可用于检测衍射和其他可用于分析掩模或晶圆模式精度的可见特征。它还具有广泛的高灵敏度滤波器,以帮助消除来自成像环境的噪声和干扰。该机利用先进的光学技术，提供高分辨率输出的掩模图样或晶圆图样的可靠图像。该工具还提供了高速自动对焦机制，可以检测成像器视野中的微小细节。资产利用各种光源来捕获数据，包括紫外线、蓝色和绿色LED以及激光。这些不同的光源提供了扩展的对比度能力范围，使模型能够识别微妙的遮罩或晶圆缺陷。TENCOR 238还集成了多场成像和放大镜功能，使其能够一次检查多达20个不同的视场。该设备还能够存储范围广泛的分析图像,允许用户查看、存储和存档图像以供存档或将来参考。此外,238还具有确保准确结果的许多功能。其中一个特点是改进了激光聚焦机制，使系统能够准确识别掩模和晶圆图样中的小缺陷。此功能还有助于减少错误警报,并降低实现准确结果的成本。该单元还可以灵活调整用于成像过程的光量和光型，允许在各种成像条件下改进结果。最后，该机器设计具有多种安全特性，减少了对操作员和设备造成损坏或伤害的可能性。所有的内部镜片都是自清洁的，使得它们更容易使用，不太可能造成问题。此外,该工具旨在最大程度地减少意外烧伤或热点的问题,进一步降低对用户或设备造成损坏的可能性。总而言之，KLA/TENCOR 238是一种先进的掩模和晶圆检测资产，旨在提供精确的图像，提高灵敏度和准确性。该模型非常适合质量保证和生产操作,可快速准确地提供高分辨率的掩模和晶片图像。设备的先进特性和安全措施使其成为检测半导体器件高端技术的理想工具。