二手 KLA / TENCOR 2401 Viper #9014087 待售

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ID: 9014087
优质的: 1999
Automated macro-defect wafer inspection system Brightfield and darkfield inspection Throughput: 80 Wafer/hour Recipe-configurable pass / Fail settings Camera and optics calibration capability Windows NT user interface Hard drive missing Frequency: 50/60 Hz Volts: 100-240 Power: 200-240, Single phase 1999 vintage.
KLA/TENCOR 2401 Viper是一种掩模和晶片检测设备,提供高水平的性能和准确性。该系统非常适合检查平片以及蒙版、标线和其他接触基板上的3D曲面。KLA 2401 Viper使用高分辨率CCD检测器,可用于检查高达30 nm音高的细节。探测器还能够捕获广泛的成像角度,使设备能够从各种成像角度获取高精度反馈。毒蛇照明器提供多种光谱来捕捉,包括紫外线、VIS、NIR和AR。机器可以配置为使用各种4路滤波器和激光器,允许更大的灵活性和控制。毒蛇配备了先进的成像算法,可以检查光学和晶圆缺陷种类,以及由于光刻造成的像差。Viper提供快速的检查时间(通常为1-2秒),最多可存储4000张图像供以后查看。在用户界面方面,TENCOR 2401 Viper拥有直观的GUI,可以让用户快速高效地控制工具。操作面板有5个键盘按钮,用于逐步培训和参数设置。该资产还配备了先进的分析模型,可以方便地比较图像,以及存储单个图像以供以后审查。2401 Viper通过结合高效编程、先进的成像算法、快速成像时间、直观的用户界面和高分辨率成像功能,提供可靠准确的检测结果。该设备是一种经济高效的方式,以保持密切标签上的表面缺陷的标线,面罩或其他接触基板。该系统可作为商业和研究环境的宝贵资产,提供质量控制和保证,确保所需的产品或研究成果。
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