二手 KLA / TENCOR 2401 Viper #9160676 待售

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KLA / TENCOR 2401 Viper
已售出
ID: 9160676
优质的: 2002
Wafer defect inspection system 2002 vintage.
KLA/TENCOR 2401 Viper是集成电路器件制造过程中使用的一种掩模和晶圆检测设备。该系统利用先进的光学、照明和图像处理技术,提供当今可用的最高分辨率、最高速度和最可靠的分析。该单元由强大的成像引擎、高分辨率成像阵列和S2535运动控制机组成。该成像引擎采用1600万像素CCD相机,配有专用光学器件,可提高紫外线-VIS-IR范围内的灵敏度。这使得KLA 2401 Viper可以捕获和检查最小的缺陷,如划痕、划痕、污染物、残留物和颗粒。高分辨率成像阵列由多达800万像素组成,与非缝合解决方桉相比,可提供高达8倍的分辨率。它还通过其高动态范围提高了检测精度。S2535运动控制工具配备了运动反馈资产,允许在x、y和z轴上进行精确且可重复的运动。这确保了光学器件与掩模或晶片表面的最佳聚焦和相对定位。TENCOR 2401 Viper配备了多种用于检查、分析和报告的软件工具。它使用获得专利的Smart Imaging Analysis技术提供快速、可靠和可重复的分析。此外,它还利用模式识别技术来识别缺陷。与传统的检查方法相比,这可以减少误报并提高吞吐量。它还可以连接到外部数据库和文件系统,从而实现数据管理和可追踪性。2401 Viper非常适合要求高分辨率、高通量和高精度进行掩模和晶圆检测的半导体制造商。它旨在用于缺陷检测、颗粒分析、计量、产量提高和其他过程控制需求等一系列应用。KLA/TENCOR 2401 Viper易于集成到制造过程中,可以连接到现有的自动化系统。它还附带了广泛的配件和选项,允许用户根据自己的特定需求定制模型。
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