二手 KLA / TENCOR 2401 #293774190 待售

KLA/TENCOR 2401是一种高功率的掩模和晶圆检测设备，设计用于精确测量半导体模具模式。该系统配备了先进的光学、晶圆处理板、图像处理算法，提供快速、可靠的检测结果。KLA 2401单元设计用于检查多种类型的模具、口罩和晶片，并提供对模具模式的深入分析。TENCOR 2401采用了专利的模模检测技术，使机器能够增强模具图样的图像并比较相邻图样。此技术可增强模式配准后的图像处理,并有助于识别缺失、移位或不完整的模式。2401利用扫描电子显微镜（SEM）提供高达50倍的高分辨率放大倍率。SEM技术还允许自动检测缺陷,并支持线宽和覆盖测量等离线测量,采用各种算法,包括边缘检测和交叉关联。KLA/TENCOR 2401工具提供高级对齐选项,可提高准确性并缩短检查时间。集成的图像校正资产可最大程度地减少来自SEM的失真,并提高准确性。KLA 2401型号具有自动对准功能，允许晶圆定位在检测场的中心，并且所有模具都在同一方向对准。TENCOR 2401设备提供全面的报告和统计数据，帮助用户识别和纠正潜在问题。它提供了详细的视觉检查,并可以选择生成所有检查过的模具的图像,从而能够进行彻底的评估。2401还提供了高效的报告,包括缺陷图（D-MAP）,用于评估缺陷的分布和识别缺陷的高筛选精度。KLA/TENCOR 2401掩模和晶片检测系统是一种先进、可靠的半导体模具和晶片检测装置。它提供了全面的缺陷检测和报告、准确的对齐以及增强的图像处理功能,使用户能够快速检查和分析模具模式。KLA 2401是一种高效且经济高效的解决方桉,可帮助确保半导体模具和晶片的生产和质量。