二手 KLA / TENCOR 2606 #199591 待售

KLA/TENCOR 2606是一种前沿掩模和晶片检测设备，设计用于检测半导体晶片和掩模中的缺陷。它包括可互换的网框适配器和光源，它提供了一个无与伦比的精度和分辨率水平。KLA 2606利用远程中心光学和专有算法的组合,以极低的误报率检测和定位故障区域。TENCOR 2606的远心光学以其在整个标本上投射均匀光纹的能力而着称。这消除了与光源交替距离造成的像差，允许精确聚焦的检查。同时,系统的z轴驱动器通过控制运动移动样品,确保精确扫描,而双级滤波器可以快速消除任何不必要的背景噪声。准确的测量数据对于确保集成电路的最佳性能至关重要。2606考虑到掩模地形、模式和失真的影响，以便确定最精确的参数。例如,它能够测量边缘位置到微米的一小部分,从而确保制造产品的最高质量。KLA/TENCOR 2606可以快速扫描大面积的晶圆掩模基板，同时提供经济高效的解决方桉。该单元配备了200百万像素的Area Array Camera，一种全速运行而不中断的图像捕捉机制。它利用四个12位ADC,将复杂图像简化为精确的数字信息,使其成为制造超大规模集成电路（ULSIC）的机器设计者的理想选择。KLA 2606是高速生产线检测的完美伴侣。该工具易于使用，提供了多种编程选项，允许用户为一系列应用程序自定义检查过程。资产的自动化功能支持快速设置和调整,而顺序分析则可以节省时间。所有这些特性使得TENCOR 2606成为现代半导体技术发展不可或缺的工具。