二手 KLA / TENCOR 2608 #9083810 待售

KLA/TENCOR 2608是一种专业的掩模和晶圆检测设备，能够以高精度快速检测半导体生产中的缺陷。该系统由激光散射仪和晶圆设计监视器组成，该监视器能够快速识别和测量晶圆图像中的临界尺寸变化。激光散射仪能够在掩模/晶片的表面上捕捉到细微的细节，设计用于以高度精确的精度分析粒子尺寸和图案变化。它可以检测0.3 μ m或更大的粒子，并能够识别厚度小于0.1 μ m的粒子。单位还可以测量每个粒子的大小、形状和位置，帮助识别任何可能被忽视的缺陷。晶圆设计显示器由集成数字成像处理器提供动力,该处理器提供了一个虚拟平台,用于确定观察到的缺陷是否符合设计规范。它能够从晶片或掩模中捕获高精度的光学数据，然后分析这些数据，以便准确预测潜在的工艺或产品问题。该监控器有助于及早发现潜在缺陷，因此改进了半导体制造的质量控制过程。KLA 2608是一种通用工具,可集成到一系列不同的工艺和生产系统中。它能够同时执行多模具检查,其先进的缺陷成像功能有助于识别当前和过去的缺陷。这种强大的图像捕获和分析功能允许对晶片和掩模进行全面检查,从而能够快速检测到任何不规则性。TENCOR 2608具有强大的设计和先进的功能,是寻找快速、可靠和准确检测结果的半导体生产环境的理想选择。该机器旨在提供高生产率、精确度和准确性,以确保所有最终产品均符合行业标准和客户期望。