二手 KLA / TENCOR 2830 CI #9257467 待售

KLA/TENCOR 2830 CI是为半导体制造而设计的晶圆测试和计量设备。该系统功能强大且非常精确,可用于研究和行业应用。该单元的测量基于100 nm以下的实时3D测量。可用于层厚、平坦、平面、特征均匀性、X射线反射仪、均匀性、应力、互连性、粘附性、线宽、可打印性、光掩模缺陷检测、图像分析等多种功能。KLA 2830 CI是一种自动化机器，可以通过其批处理工具从头到尾跟踪每个晶片。其工艺控制器可以实时准确地确定每个晶片的真实状态。它还配备了用于缺陷识别的高级算法，包括能够准确发现和测量微小特征的视觉资产。TENCOR 2830 CI的晶圆处理模型设计为以纳米级精度快速高效地移动晶圆。这种设备的设计目的是确保样品处理以最小的晶圆损坏，并且可以容纳各种各样的晶圆尺寸。该晶圆处理系统还可以处理多次通过的测试结果，从而使用户能够轻松地识别出表面的任何可重复特征和粗糙度模式。2830 CI还允许轻松集成到现有测试系统中。它配备了模块化的产品体系结构,可灵活设计和轻松集成现有的测试硬件。KLA/TENCOR 2830 CI具有自动读取功能,能够为用户提供可靠、可重复的读取功能,可用于开发和改进过程。该单元还设计用于处理各种软件包,包括SEMVision、Euriware的光学和成像解决方桉以及自动缺陷识别解决方桉。KLA 2830 CI是一款功能强大、精密的机器，专为研究和行业应用而设计。其准确和可重复的读数为用户提供了做出明智决策所需的数据。TENCOR 2830 CI具有广泛的功能选择和灵活的设计,是任何半导体制造设施的重要补充。