二手 KLA / TENCOR 2830 #9401094 待售

KLA/TENCOR 2830晶片测试计量设备是自上而下实时晶片级检测和缺陷检测应用的综合解决方桉。该系统将大的动态范围成像与小的占地面积相结合，对缺陷部位进行了有效的复查。该单元用于测试和分析晶圆结构的动态范围和粒子特性，包括从微米到亚微米的特征大小。此外，该机器还可用于其他关键晶片级测试，如桥接、蚀刻和工艺表征。KLA 2830工具利用现场发射器阵列（FEA）技术提供高分辨率图像,最大分辨率为64微米/像素。该资产还提供各种性能选项,如全区域特性、自上而下的成像、粒子检测和计量。此外，该模型利用独特的光传输技术来拍摄和检测粒子，允许用户检测小至0.2 um的粒子。TENCOR 2830还包括为用户提供自动化和改进的测试功能的高级软件。特点包括具有适应性的数据分离和收集能力，以促进对数据的有效审查。其他值得注意的软件功能包括功能强大的搜索引擎、缺陷分类和注释、详细的统计数据分析和可视化报告。对于用户友好的设备操作和强大的性能,2830系统具有直观的交互式图形用户界面。界面允许用户查看各种单元设置，快速分析数据。机器还为用户提供了存储和召回设置以及快速备份数据的能力。KLA/TENCOR 2830晶圆测试和计量工具提供一流的静态和动态测量和分析功能。其占地面积小，动态范围大，是大规模生产和检验晶片的理想解决方桉。此外，它还拥有一系列先进的软件功能和直观的用户界面，是晶圆级测试和分析的强大而可靠的工具。