二手 KLA / TENCOR Archer 100 AIM #9261844 待售

KLA/TENCOR Archer 100 AIM是半导体工业中使用的掩模和晶圆检验设备，使用户能够大幅提高排便识别和自动化水平。该系统包括自动晶片检查和图桉化薄膜扫描,同时提供与KLA系列产品相同的卓越性能。KLA Archer 100 AIM具有坚固的舞台和宽大的垂直行程范围,可容纳300 mm的基板尺寸。这使用户无需人工干预即可快速检查各种口罩。该单元使用高级算法来识别即使是其他类型的检查通常会遗漏的最小缺陷。它还能够检测和成像图样成像膜中小至2mm和深至30um的缺陷。TENCOR ARCHER 100AIM还拥有一系列专利的自适应光学器件和多达9个光源，从而增强了缺陷检测和成像的控制和准确性。它提供可调节的白平衡、强度和对比度设置,以有效地照亮所有目标表面。此外,它还包括自动扫描预览模式,可以在对缺陷成像之前快速隔离和识别它们。ARCHER 100AIM还配备了增强的缺陷审查软件工具，以便于可视化、隔离和量化缺陷。它提供屏幕显示和"缺陷图"功能,可用于分析多个检查点的缺陷。与其他技术相比,它的高速图像捕获功能还支持更快的缺陷成像和更准确的结果。KLA ARCHER 100AIM是半导体行业缺陷检测和质量保证的理想解决方桉。这台先进的检查机提供全面的缺陷检测、成像和审查功能,使其成为众多应用程序的可靠且经济高效的选项。