二手 KLA / TENCOR Archer 100 #9372751 待售

KLA/TENCOR Archer 100是一种掩模和晶圆检测设备，结合了先进的光学和图像处理，能够及早发现和诊断半导体制造中的缺陷源。凭借其模块化体系结构和高级功能,KLA Archer 100大大减少了与传统检验和缺陷分类技术相关的时间和成本,为用户提供了对产品质量的信心。该系统具有独特的相关光学显微镜CropScan™,它结合了自动逐模滚动和业界最佳的低放大成像能力,可以在用于自动检查的同一视图中快速准确地对缺陷进行分类。该单元还利用先进的GVision™图像采集和分析机器检测缺陷，并将其归类为临界、非临界或无缺陷，在半导体工艺流程的所有阶段提供产品保证。TENCOR Archer 100使用户能够以高达32K的分辨率捕获高达8英寸晶片的详细模具图像,从而能够高清识别低至几微米的缺陷。自动模式匹配使工具能够识别和标记最小和最微弱的缺陷,并根据用户设置的标准自动拒绝或接受掩码/晶片。为确保操作简单直观,Archer 100采用基于触摸的图形用户界面,用户可以轻松控制资产并快速设计新配方。该软件还包括强大的数据管理和报告生成功能,以确保制造的可追踪性和可重复性。KLA/TENCOR Archer 100可集成到现有工作流程中，与一系列半导体制造和计量仪器兼容，为用户提供了半导体制造业不断扩展的解决方桉生态系统。该模型的故障率低，安装过程简单，为用户提供了一个可靠、经济高效的掩模和晶圆检测解决方桉。