二手 KLA / TENCOR Archer 200 AIM #293614970 待售
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KLA/TENCOR Archer 200 AIM是为半导体工业设计的最先进的面罩和晶圆检测设备。该系统用于分析晶片和掩模在制造过程中的质量并确保其性能。该设备基于公司获得专利的Sensing Technologies,可实现灵活、快速、方便的检测过程。它使用GraniteTM AI驱动的掩码检查器来检测掩码上的模式、缺陷和变化。该机器还包含一个集成的Reticle Inspection Platform（RIP），可以检测用于制造集成电路芯片的光掩码上的模式异常和其他不符合性。KLA Archer 200 AIM还搭载ILT HD Motors技术，进行高精度的表面平坦度和俯仰测量。该技术利用了一种独特的图像相关算法，可以在0.1微米的精度水平上检测音高变化。此外,该工具还包括KLA高级自动缺陷审查（ADR）技术。此技术可帮助技术人员快速准确地识别传统成像系统难以检测到的小缺陷。TENCOR Archer 200 AIM的设计考虑到了易于操作,它利用了一系列用户友好的控制界面和自动设置。它通过取消手动干预和减少总体培训时间来简化设置和操作。此外,资产的灵活自动化功能允许不同的操作员轻松定制检查参数,并实现更高的吞吐量和准确性。Archer 200 AIM的设计满足了当今最严格的缺陷检查要求,提供了最高水平的准确性和可靠性。它能准确检测污染、线厚差、分辨率差以及其他多种类型的缺陷，具有极好的重复性、重复性和可靠性。因此，KLA/TENCOR Archer 200 AIM是全球半导体行业晶圆和掩模检测的领先选择。
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