二手 KLA / TENCOR Archer 200 AIM #9267465 待售

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ID: 9267465
优质的: 2011
Overlay inspection system 2011 vintage.
KLA/TENCOR Archer 200 AIM是一种综合性的掩模和晶圆检测设备,旨在提供最大的图像质量和过程控制。该系统配备了最新的先进成像技术,确保了对集成电路、MEM、复合半导体等的可靠准确的检测。AIM利用获得专利的Lightfield™成像技术,结合了光学、光电子和捕获表面地形和图样信息的软件。该单元还能够同时对晶片两侧进行缺陷检测,以及3D晶片检测。由于其高吞吐量和传感技术,Archer 200能够在高分辨率和放大倍率级别上执行。它能够检测各种设备尺寸的细微缺陷和结构畸形。可变LED强度可以调整,进一步提升图像质量,而彩色触摸屏GUI则提供简单直观的用户体验。该机器具有强大的数据分析功能,以及针对各种应用领域的各种专门功能。这些包括用于模具成像和测量的专门分析功能,以及超快速图像识别和自动对焦算法。此外,KLA工业级映像处理器提高了吞吐量,而内置的ASIC可以进一步提高运行时性能。AIM还能够捕获高度精确的特征数据,这要归功于动态光学模拟、多角度采集和特征检测算法等先进技术。该工具支持多个数据输出和自动缺陷分类,为用户提供最大限度的质量、过程控制和可靠性。KLA Archer 200 AIM紧凑的外形尺寸和灵活的配置选项使其能够轻松满足一系列用户需求。该资产以其先进的技术、快速的速度和可靠的结果来满足当前和未来的行业需求。
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