二手 KLA / TENCOR Archer 200 #293758108 待售

KLA/TENCOR Archer 200 Mask&Wafer Inspection Equipment （KLA/TENCOR Archer 200掩模晶片检测）是现代集成电路微电子芯片上检测、测量和检测缺陷及模式的先进解决方桉。该系统配有用于掩模和晶片检查的自动检查工具,提供业界领先的一系列自动化功能。该单元包括配备先进模式匹配和缺陷检测算法的全视野机。该工具还包括一个光电倍增管（PMT）传感器，用于高灵敏度和图像对比度的低级计量。KLA Archer 200资产提供自动化的视觉检查功能,具有许多功能,例如3D晶圆检查和3D蒙版测试。它还具有缺陷检测、测量和分类等一系列内置软件功能。该模型具有增强的用户界面，便于快速、方便地监控结果和显示缺陷图像。该设备还具有高效的表面成像和可调节的灵敏度，使缺陷检测和测量具有极高的准确性。此外，TENCOR Archer 200 Mask&Wafer Inspection System装有一个晶圆缝合器，用于组合同一晶圆的多个图像。这有助于最大限度地减少丢失缺陷的机会,并减少返工和机组停机时间。该机还兼容各种检查模式，如上侧/下侧检查和全场表面成像。该工具由高端计算系统提供支持,可定制为大规模生产高密度设备提供端到端解决方桉。其操作可以通过基于Web的GUI进行管理,该GUI简化了控制设置过程并简化了分析任务。总体而言,Archer 200 Mask&Wafer Inspection Asset旨在提供最佳的图像质量和检查性能。该模型是针对当今半导体行业检验要求的可靠、经济高效的解决方桉。