二手 KLA / TENCOR Archer 300+ #9223425 待售

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KLA / TENCOR Archer 300+
已售出
ID: 9223425
晶圆大小: 12"
优质的: 2011
Overlay measurement system, 12" 2011 vintage.
KLA/TENCOR Archer 300+是一款高性能、自动化的掩模和晶圆检测设备,旨在快速准确地识别半导体制造中的缺陷。该系统能够检查模具和掩模级别-它可以检测图样、CD、迭加、作曲器和光刻缺陷,同时确保卓越的准确性和检查速度。KLA Archer 300+配备了先进的光学检测技术,包括双色CCD相机。这种功能强大的成像装置使用户能够详细检查蒙版和模具级别,并提供清晰清晰的图像和出色的对比度。此外,该机获得专利的照明和照明控制技术,连同其先进的图像处理算法,甚至能够识别和隔离最微小的缺陷。除了令人印象深刻的光学能力外,TENCOR Archer 300+还搭载了一系列其他功能,提升了其在半导体制造过程中的价值。例如,该工具附带了一套功能强大的自动化导航工具,简化了检查过程,减少了操作员的时间。此外,资产的软件使用户能够创建缺陷的详细报告和分析,以及存储和召回复杂的配方。Archer 300+还配备了精密的光学和光学相关解决方桉,如波长比照、可变光斑大小、实时光谱测量等。这些解决方桉允许模型检测和应用多种颜色的一致强度,同时自适应地擦除从一个模具到下一个模具散射的任何光。总体而言,KLA/TENCOR Archer 300+是一款功能强大、自动化的面罩和晶圆检测设备,旨在最大限度地提高精度,减少检测时间。其先进的成像技术、导航工具和光学解决方桉确保对每个模具进行彻底检查,并迅速记录和纠正任何缺陷。KLA Archer 300+凭借其可靠和可重复的结果,是半导体制造过程中的一个宝贵组成部分。
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