二手 KLA / TENCOR Archer 300 #9240153 待售

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KLA / TENCOR Archer 300
已售出
ID: 9240153
优质的: 2012
Overlay measurement system 2012 vintage.
KLA/TENCOR Archer 300 Mask&Wafer Inspection设备是一种先进的光学检测平台,旨在提供有关Mask和Wafer质量的全面可靠数据。该系统设计用于高速、自动审查过程,每小时最多300个晶圆。它配备了业界领先的成像技术,旨在检测从微观到2微米大小的面罩和晶圆缺陷。在其核心,该单元包括一个独特的,专有的SensorIRTM红外探测器,与电动晶片级,光盾,和超高清晰度变焦镜头相结合的工作。这种独特的设置在检查掩模和晶片缺陷方面显示了最高的灵敏度,传感器在图像分辨率、线条边缘清晰度和对透明缺陷的灵敏度方面提供了无与伦比的结果。此外,该机器还包括板载过程管理器、数据分析和图像比较功能。KLA Archer 300还配备了强大的可视化工具,旨在实现更好、更快的晶圆修复和返工决策。这包括一套日益复杂的图像处理算法,旨在实时检测和显示图像失真。此外,TENCOR Archer 300还具有集成的文本分析模块,该模块内置在资产中,用于更高级别的流程监控。此外,该模型还包括一系列自我诊断系统,旨在提供便利、可靠性和成本节约。Archer 300 Mask&Wafer Inspection设备是一个功能强大且用途广泛的系统,旨在为操作员提供一个快速而全面的解决方桉,用于检查和分析Mask和Wafer的完整性。它结合了先进的光学和成像技术、数据分析和诊断能力,使其成为寻求可靠和业界领先的检验单位的人的理想选择。
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