二手 KLA / TENCOR Archer 300 #9287998 待售

KLA/TENCOR Archer 300是一款面罩和晶圆检测设备，旨在提供卓越的自动化产量和性能分析。KLA Archer 300利用先进的图像识别算法来检测、分析和分类半导体制造中使用的掩模和晶圆模式中的缺陷。该系统能够在每小时超过1 300万个站点检测地形异常和参数异常。对这些站点进行扫描,以便检测和准确校正掩模和晶片模式之间的任何差异。它还可以对各种缺陷类型进行高级分析，如线路窄或桥梁故障。TENCOR Archer 300的设计超越了精度和性能的最高标准。利用最新的成像技术，设备能够检测和分析微米级别的缺陷。其先进的模式识别算法能够识别出与理想模式最小的偏差，从而产生更快的结果时间和更高的收益率。此外,KLA直观软件允许无缝定制测试参数和结果演示。使用用户友好的图形界面,用户可以快速定义测试参数并创建可自定义的报告。这使用户能够比以往更快地分析和报告缺陷和分层。Archer 300对于突破性的下一代技术节点特别有用。它能够监控和分析最复杂、最密集的晶圆图样,从而能够准确检测与多图案设计相关的微小缺陷。该机器还能够监测过程变化的影响及其对掩模和晶片性能的影响。KLA/TENCOR Archer 300是半导体制造过程中监控和分析掩模和晶圆缺陷的强大可靠工具。它提供了无与伦比的精度和控制,允许更精确的分析和更快的周转时间。通过利用最新的成像和模式识别技术,KLA Archer 300可帮助用户保持更高的产率,同时减少与测试和分析相关的时间和成本。