二手 KLA / TENCOR Archer 500 AIM #293653553 待售

KLA/TENCOR Archer 500 AIM是一种掩模和晶圆检查设备，能够对小元件进行3 D表面扫描。该系统配有高分辨率光学、先进算法和通用跟踪单元，以确保一致和准确的成像。这台机器能够检测广泛的掩模和晶圆结构中的小缺陷，包括人造结构、微电子学中发现的结构以及其他非常小的组件。掩模和晶片检查工具采用先进的高分辨率光学元件，这些元件经过专门设计，使资产能够检测到传统光学显微镜无法检测到的小缺陷。由于其强大的光学模型和复杂的机器视觉算法，它具有独特的理解受检样品3D结构的能力。这使得它可以在三个维度上扫描整个样本或其中的任何部分。此外，设备采用创新的跟踪系统，确保准确捕获样品的每一个移动。该单元具有非常快的检测周期时间，专门为高速晶圆利用而设计，这使得它对一系列不同的应用具有吸引力。此外,它还使用了独特的智能模式识别软件,使其能够检测到常规光学显微镜未检测到的任何狭窄缺陷。它还配备了用户友好的图形界面，方便使用，减少了检查时间。该机器的设计非常方便用户和经济高效。最重要的是，它的设计方式使得工具是自学的，这意味着与传统方法相比，它可以在很小的时间内检测到小的缺陷。此外，资产的磁驱动系统有助于减少振动，从而显着降低误报率。总之，KLA Archer 500 AIM是一种多用途且高度复杂的模型，旨在检测小掩模和晶片缺陷。由于先进的光学、复杂的算法和跟踪设备,它能够快速进行3 D扫描并检测非常小的缺陷。其用户友好的图形界面、成本效益和自学算法使其成为任何掩模和晶圆检测系统的一大财富。