二手 KLA / TENCOR Archer 5300 #9296115 待售

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ID: 9296115
Overlay measurement system.
KLA/TENCOR Archer 5300是一款口罩和晶圆检测设备,它结合了业界领先的KLA检测技术和Archer Analytics平台强大、自动化的图像编辑和分类功能。该系统为用户提供了无与伦比的自动化级别,用于高分辨率掩码和晶圆审查。KLA Archer 5300采用先进的光学设计,允许设备检查多达5微米的特征细节。它具有直接继承权晶片检查(DHWI™)机器,可以快速扫描大面积,这样就可以在不中断当前检查的情况下获取高度放大的图像。该工具还结合了先进的图像处理算法和专有的机器视觉算法来识别复杂的缺陷。TENCOR Archer 5300允许用户调整检测功能,以分析任何大小、形状或材料组成的样品。该资产还拥有一个功能强大的自动化图像分析平台,允许用户以高效和自动化的方式处理大量图像数据。Archer 5300还包括Web可访问功能,允许用户查看任何设备的图像和报告。为确保准确检查,该模型包括一个灵活的用户界面,允许操作员快速选择自动缺陷分类、图像增强和其他分析功能。KLA/TENCOR Archer 5300还包括一个内置的Metrology设备,可以测量小至一纳米的特征。该系统还具有高度可靠的"即时"缺陷审查功能,允许用户在获取图像时查看图像。这有助于确保检查过程的准确性和可重复性。总体而言,KLA Archer 5300为掩码和晶圆检测系统提供了完整的解决方桉。凭借先进的光学设计和强大的图像处理算法,TENCOR Archer 5300非常适合满足小型和大型制造商的需求。
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