二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #293821668 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是一种用于半导体制造的掩模和晶圆检测设备。它是一种高性能的高产率过程控制工具,其分辨率和准确性是业界无法比拟的。AIM+提供了分辨率、视野和精度的独特组合,显着提高了吞吐量潜力和数据分析的质量。通过使用先进的算法和各种各样的自动化工具，该系统提供了全面的掩码和晶圆检查分析能力。该单元设计用于检查遮罩标线、晶片亚光刻、多层和背面涂层、焊膜和碰撞。它拥有集成相机控制器、自动化对焦机和图像处理器，提供无与伦比的图像分析功能，甚至提供结构的3-D分析。AIM+利用几种先进的算法来分析打印层和缺陷，包括颜色极性、结构、侵蚀和控制溷合成像。它还提供了几种专有的模式识别算法,以增加检测功能,并具有高动态范围和明亮场成像功能。该工具具有手动和自动化功能,包括选择目标特征、聚焦位置和检查摄像机方向以提供最佳结果的功能。它还提供用户友好的GUI和简单的操作,支持多种语言、简化的编程和最小的校准。该资产具有很高的可扩展性,可配置用于多个芯片设备以及不同类型的图像分析应用程序,如计量和3-D成像。它也可以很容易地集成到现有的半导体制造过程中。为了便于数据分析和报告,KLA Archer AIM+配备了强大的数据存储子系统、快速回溯功能和出色的定位精度。此外，该模型利用高精度的基准标记检测能力，提供了卓越的对齐和缺陷的一对一关联。TENCOR Archer AIM+是一种先进而坚固的掩模晶圆检测设备，具有半导体制造所需的功率和精度。它提供必要的分辨率和视野,以及自动化和手动功能,以提供卓越的图像分析和结构三维检查。该系统采用多种专有算法以及集成的摄像头控制器、数据存储和快速回溯功能,为掩码和晶圆检测提供了全面、通用的解决方桉。