二手 KLA / TENCOR Archer AIM #9104741 待售

KLA/TENCOR Archer AIM是一种突破性的掩模和晶圆检测解决方桉,它结合了高端技术和易于使用的界面,可进行可靠和准确的分析。该系统当然非常适合需要评估集成电路生产中必不可少的掩码的IC制造商。该平台采用极其精确的光学成像技术，在掩模或晶片表面捕获详细的结构。它利用最新算法进行更快、更可靠的调查,使用户能够立即访问详细的分析结果。安装和设置也很简单,因为KLA Archer AIM设计有可快速配置和设置的即插即用组件。TENCOR Archer AIM使用户能够以可靠和准确的方式检查小型和复杂的结构,同时测量各种特性。该平台可提供大量高清图像,准确说明产品的表面特性。它可以检测纳米级的缺陷，评估临界维度（CD）层，计算收缩和覆盖。Archer AIM通过创新的自动化和数据收集工具为消费者提供了快速、高效的工作流程,以高效的方式分析准确性。它包括一个晶圆图重建工具，使用户能够轻松查看晶圆基板各层的工艺缺陷。此外,该平台还可以快速查找和识别签名缺陷。KLA/TENCOR Archer AIM可以轻松地与任何现有的工具集集成,为可重复的过程控制提供了优化的解决方桉。该系统还可以配置为控制广泛的功能，包括高级分析和模式识别。通过将KLA Archer AIM与全面的存储解决方桉集成,用户可以自动存储和访问数据,以提高可追踪性。总体而言,TENCOR Archer AIM是一种功能强大、可靠且值得信赖的掩模和晶圆检测解决方桉,有助于确保IC生产过程的精度和准确性。它具有简单易用的界面、丰富的数据集和优化的软件,使其成为任何现代IC制造商的宝贵工具。