二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #9109277 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是为现代半导体工业设计的先进的掩模和晶圆检测设备。该自动化系统为关键的光掩码和标线应用程序提供检查和审查工具。KLA Archer AIM+能够检测过程开发和生产关键层的缺陷。TENCOR Archer AIM+旨在提供最大限度的检验精度和成本节约。它采用多种技术，包括显微镜成像、光散射和偏振光成像，以便检测缺陷，而无需进行复杂的人工样品制备。Archer AIM+还使用专有算法和高级模式识别来检测细微的几何和光掩模缺陷。其即时检测和表征缺陷的能力进一步减少了准备和检查时间。KLA/TENCOR Archer AIM+还提供全面的评审功能。这包括模式分析和跟踪、缺陷识别和审查,以及跟踪和分析。设备的高级模式库允许与行业标准模式以及用户定义的自定义模式进行比较。KLA Archer AIM+还提供了多个注释和迭加选项,以协助审核过程。TENCOR Archer AIM+除了具有强大的缺陷检测和审核功能外,还提供自动缺陷检测、缺陷群集检测和报告功能。它灵活、模块化的平台为在线和离线集成提供了可扩展性,允许各种应用程序和过程。Archer AIM+拥有广泛的软件和硬件选项,适用于广泛的光掩码和标线检查应用。KLA/TENCOR Archer AIM+是一个自动化的、经济高效的解决方桉,用于检测和查看光掩码和标线缺陷。该机器提供可靠的缺陷检测和审查功能,以及自动缺陷检查、群集分析和报告。全面的模式库和注释功能可帮助用户快速、准确地识别和表征缺陷。KLA Archer AIM+还提供了流程集成的可扩展平台，使其成为各种生产环境的理想选择。